Une précision de contact inégalée pour vos mesures électroniques
Le système STD-LID-CLAMSHELL 223768-000 se distingue par sa capacité à maintenir une force d'appui parfaitement calibrée sur les circuits intégrés. Cette régularité mécanique élimine les fluctuations d'impédance courantes lors des analyses en haute fréquence. Les ingénieurs de validation profitent ainsi d'une répétabilité de mesure irréprochable d'un composant à un autre.
L'intégration d'un tel couvercle sur nos bancs automatisés a permis de stabiliser nos protocoles de test RF les plus sensibles.
Rendement accru et protection des composants sensibles
Le design à clapet ergonomique distribue la charge de manière uniforme sur le circuit imprimé de test. Cette spécificité technique protège les broches ultra-fines contre l'écrasement asymétrique, prolongeant ainsi la durée de vie de vos précieux sockets de test. Idéal pour les phases de validation de puces destinées à l'automobile connectée ou à l'aérospatiale.
Avantages opérationnels clés
- Distribution verticale de la force réduisant les risques de micro-fissures sur le silicium.
- Surface supérieure ventilée facilitant la dissipation thermique passive en cours de mesure.
- Compatibilité native avec les modules de test Smiths Interconnect de la même série.
